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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)業(yè)務(wù)有：金屬化學(xué)成分分析儀，全譜直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，金屬成分分析儀，進(jìn)口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀銷(xiāo)售，火花直讀光譜儀品牌，火花直讀光譜儀型號(hào)等等。

選擇直讀光譜儀的譜線分析線時(shí)，需要滿足以下幾點(diǎn)要求：

1）分析線和內(nèi)部laber線之間需要相同。

2）選擇分析線時(shí)，應(yīng)注意其他元素的干擾，盡量遠(yuǎn)離其他元素的重疊干擾。

3）選擇有足夠濃度靈敏度的分析線，也就是說(shuō)，當(dāng)樣品濃度有微小變化時(shí)，譜線強(qiáng)度也可以表示出來(lái)，同時(shí)分析線含量范圍要大一些，有利于分析。

4）分析線和內(nèi)線的強(qiáng)度零含量（數(shù)字電壓值，計(jì)數(shù)）好處于中間分析含量的中間范圍。

淺談直讀光譜儀的光柵衍射效率

為了提高直讀光譜儀的光柵衍射效率，在提高制作工藝的基礎(chǔ)上，通常采用特殊鍍膜以增強(qiáng)反射率，從而增大光柵的衍射效率。閃耀波長(zhǎng)指與衍射角對(duì)應(yīng)的光能量強(qiáng)的衍射波長(zhǎng)。閃耀波長(zhǎng)由閃耀角來(lái)決定。由于每塊光柵的閃耀角不同，故其閃耀波長(zhǎng)也不同。當(dāng)入射角α、衍射角β與閃耀角θ相等時(shí)，閃耀波長(zhǎng)與閃耀角之間的關(guān)系式mλ=2dsinβ=2dsinθ，其中m=0，±1，±2……，d為光柵常量。

光柵光譜覆蓋范圍和分辨率是非常重要的參數(shù)，直接影響直讀光譜儀的檢測(cè)分析性能。光柵刻線的密度決定了光柵的分辨率和光譜范圍，光柵刻線密度越大，光柵分辨率越高，對(duì)應(yīng)的光柵光譜覆蓋范圍就越窄；反之，光柵刻線密度越小，光柵分辨率越低,對(duì)應(yīng)的光柵光譜覆蓋范圍就越小。因此直讀光譜儀的檢測(cè)范圍是由起始波長(zhǎng)加上光柵光譜的覆蓋范圍所得。

光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項(xiàng)

光電直讀光譜儀是指應(yīng)用光電轉(zhuǎn)換接收方法作多元素同時(shí)分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

光電直讀光譜儀是黑色金屬及有色金屬（鐵基、鋁基、銅基、鎳基等）材料中化學(xué)元素成份快速、定量的分析儀器。廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、鑄造、金屬、科研等領(lǐng)域，進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。

光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意以下事項(xiàng)：

一、光源發(fā)生器的選擇

為進(jìn)行多種樣品和元素的分析，需要各種發(fā)生器。同時(shí)測(cè)定多種元素時(shí)，根據(jù)測(cè)定范圍選一種激發(fā)方法。

火花光源比較適合于同時(shí)測(cè)定多種元素，如金屬中的合金成分和雜質(zhì)元素的定量分析。電弧光源適用于測(cè)定樣品中的痕量成分。低壓電容放電光源使電路參數(shù)變化達(dá)到從電弧到火花階段性變化，可用于多目的的分析。

對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素

對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素是哪些呢？直讀光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強(qiáng)度為依據(jù)的，影響光譜儀射線強(qiáng)度的因素會(huì)影響分析的準(zhǔn)確度，以下是主要兩大影響因素：

一、基體效應(yīng)

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)i效應(yīng)。

吸收效應(yīng)包括基體對(duì)入射X射線的吸收及對(duì)熒光X射線的吸收。因?yàn)橛蒙渚€激發(fā)樣品時(shí)，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過(guò)一定厚度的樣品才能射出。在穿透過(guò)程中，這兩種X射線都會(huì)因基體元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱，射線減弱會(huì)影響對(duì)分析元素的激發(fā)效率。

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分光計(jì)的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測(cè)定范圍、鄰近譜線對(duì)分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測(cè)定波長(zhǎng)范圍和亮度來(lái)選定。

分析線的選擇

分析元素和內(nèi)標(biāo)元素的譜線應(yīng)選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。

不均勻效應(yīng)

不均勻效應(yīng)是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對(duì)熒光X射線強(qiáng)度的影響。對(duì)于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強(qiáng)，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對(duì)X射線的吸收。測(cè)短波X射線時(shí)，要求粒度在250目以上，測(cè)量波長(zhǎng)大于0.2nm的長(zhǎng)波x射線時(shí)，則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實(shí)并使表面平滑。粗糙表面會(huì)使熒光X射線的強(qiáng)度明顯下降。測(cè)量短波X射線時(shí)，光潔度在1005m左右，測(cè)量長(zhǎng)波X射線時(shí)，光潔度為20-50Mm。