基本功能：SZT-H1型金屬質(zhì)量電阻率測(cè)試臺(tái)配以四探針儀器構(gòu)成成套測(cè)試系統(tǒng)，是運(yùn)用四端子測(cè)量原理的專業(yè)測(cè)量金屬箔類（質(zhì)量）電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量裝置。（以下簡(jiǎn)稱測(cè)試臺(tái)）

   基本組成：測(cè)試臺(tái)測(cè)試電極組、升降臺(tái)、支架、連接線纜等部件組成。

   配套與兼容：本測(cè)試臺(tái)兼容本公司所有臺(tái)式四探針測(cè)試儀器。本測(cè)試臺(tái)可兼容國(guó)內(nèi)同行絕大多數(shù)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀器。

   優(yōu)勢(shì)特征：SZT-H1質(zhì)量電阻率測(cè)試臺(tái)符合國(guó)標(biāo)《GB/T 5230-1995》中對(duì)金屬箔類質(zhì)量電阻率測(cè)試要求，測(cè)試電極采用銅質(zhì)刀架制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、接觸良好；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。

   儀器適用于金屬薄膜材料廠、半導(dǎo)體薄膜材料廠、橡塑材料廠、電容器廠、科研單位、高等院校等對(duì)半導(dǎo)體或金屬薄膜材料的方阻、電阻率性能的測(cè)試。特別適用于要求快速測(cè)量中低方阻及要求結(jié)果分選的場(chǎng)合。

    ST2258A型多功能數(shù)字式方阻測(cè)試儀能夠測(cè)量普通電阻器的電阻（修正系數(shù)1.000）和半導(dǎo)體、導(dǎo)體薄膜的方塊電阻，（需調(diào)整不同的修正系數(shù)）。

1. 操作概述

 (1) 測(cè)試準(zhǔn)備：

  電源開(kāi)關(guān)置于斷開(kāi)位置，將電源插頭插入電源插座。對(duì)于金屬箔類樣品、非金屬薄膜樣品，將SZT-H1測(cè)試臺(tái)的測(cè)試插頭與主機(jī)的輸入插座連接起來(lái),參照國(guó)標(biāo)《GB/T 5230-1995》中，制備測(cè)試時(shí)樣品，長(zhǎng)=150mm,寬W=25mm； 對(duì)于電阻測(cè)量，用四端子測(cè)量線作輸入線。調(diào)節(jié)室內(nèi)溫度使之達(dá)到要求的測(cè)試條件。將電源開(kāi)關(guān)置于開(kāi)啟位置，數(shù)字顯示窗亮。如圖

 (2) 參數(shù)設(shè)定：

  儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)狀態(tài)為“設(shè)定” 模式，ST2258A面板示意圖，窗口左側(cè)“設(shè)定”模式燈亮，通過(guò)鍵盤(pán)輸入需要的修正系數(shù)。儀器默認(rèn)修正系數(shù)F=1.000,即電阻測(cè)量方式可直接切換到“測(cè)量”模式而不需設(shè)定修正系數(shù)。否則需要輸入需要的修正系數(shù)，如需要分選功能的輸入各分選界限值，不需分選功能，不輸入各分選界限值不影響測(cè)試，顯示分選結(jié)果無(wú)意思。

 (3)測(cè)量：（金屬箔類樣品）

  設(shè)定完畢，切換儀器到“測(cè)量”模式。窗口左側(cè)“測(cè)量”模式燈亮，按照標(biāo)準(zhǔn)制取樣品，長(zhǎng)度330mm,寬25mm.      

    將SZT-H1測(cè)試臺(tái)頂端快速扳手向上向后打到底，抬起測(cè)試電極組。將樣品平展置于測(cè)試臺(tái)底板上，注意，樣品長(zhǎng)軸方向與電極刀刃方向垂直，樣品寬度在刀刃長(zhǎng)度范圍之內(nèi)。向前向下壓下快速扳手，壓下測(cè)試電極組，保持電極刀口與樣品適當(dāng)壓力，良好接觸，由數(shù)字顯示窗直接讀出測(cè)量值和分選結(jié)果。

  注意：刀刃對(duì)樣品的壓力調(diào)整方式是，調(diào)節(jié)測(cè)試臺(tái)后側(cè)導(dǎo)軌支架中部螺桿上的螺母（先松開(kāi)鎖緊螺帽），觀察電極上方導(dǎo)向螺桿伸出程度，一般以1cm左右為宜，壓力調(diào)好后，鎖緊鎖緊螺帽。

            測(cè)試壓力調(diào)整螺母示意圖         

  注意：

  1 測(cè)試臺(tái)底板、測(cè)試電極及樣品要保持清潔，以免接觸不良和漏電影響測(cè)試準(zhǔn)確性。

  2 對(duì)于測(cè)試前期樣品有預(yù)處理要求的，如清洗，烘干，需要樣品盒一起進(jìn)行的，不得接觸對(duì)電極材料有腐蝕性的清洗劑，烘烤溫度不得高于150℃，對(duì)于因高溫引起電極表面氧化嚴(yán)重的，可能影響測(cè)試導(dǎo)通的，要用細(xì)沙紙輕檫表面以清除表面氧化層。

1.1 測(cè)量范圍、分辨率

      圖1-1A(測(cè)試臺(tái)膜寬與方阻測(cè)量范圍)      圖1-1B(測(cè)試臺(tái)截面與電阻率測(cè)量范圍)

（1）方阻測(cè)試范圍*（以配SZT-H1測(cè)試臺(tái)為例）

測(cè)量膜寬：1mm≤B≤50mm

基本方阻測(cè)量值： 1.0×10^-6～ 1.2×10³ Ω/□， 分辨率：1.0×10^-7～ 1.0×10⁰ Ω/□。

具體膜寬w與測(cè)量范圍關(guān)系見(jiàn)圖1-1A。

（2）電阻率測(cè)試范圍（以配SZT-H1測(cè)試臺(tái)為例）

（厚度d<10mm,寬w<50mm）

基本電阻率測(cè)量值： 1.0×10^-6～ 1.2×10³ Ω*cm， 分辨率：1.0×10^-7～ 1.0×10⁰ Ω*cm。

具體截面s與測(cè)量范圍關(guān)系見(jiàn)圖1-1B。

1.2 SZT-H1測(cè)試刀架：

⑴電壓刀片間距：20mm±0.2% ，刀刃長(zhǎng)60mm

⑵電流刀片間距： 70mm，刀刃長(zhǎng)60mm

⑶測(cè)試臺(tái)架外型尺寸：260×200×260（長(zhǎng)×寬×高）

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四、聯(lián)系方式：13656225155/0512-80973697/66050595(傳真)  QQ:1064887318 丁先生