X熒光光譜儀WDXRF光譜儀 日本理學(xué) X熒光光譜儀WDXRF光譜儀熒光
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X熒光光譜儀WDXRF光譜儀-日本理學(xué)-X熒光光譜儀WDXRF光譜儀熒光

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是否進(jìn)口 進(jìn)口
品牌 理學(xué)
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
產(chǎn)品名 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號(hào) 7245891
商品介紹

我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新??v觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

新型X射線管和多層膜晶體改善了超輕元素的測(cè)量。20世紀(jì)90年代中期以來(lái)相繼推出新型的端窗X射線管,延長(zhǎng)了使用壽命,縮短了陽(yáng)極到樣品的距離,端窗口鈹窗厚度從125 μm 改用75 μm或 50 μm; 同時(shí)測(cè)定輕元素的分光晶體由反射式改用多層膜晶體,可根據(jù)需要生產(chǎn)岀不同晶面間距的多層膜晶體。多層膜晶體還具有耐輻照、背景低、信噪比好和使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),這些新技術(shù)的應(yīng)用使可分析的元素原子序數(shù)從9號(hào)的氟前推到5號(hào)的硼,在特定條件下甚至可測(cè)定4號(hào)元素鈹。




射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進(jìn)行的元素分析方法,采用探測(cè)器檢測(cè)特征X射線熒光的能量和強(qiáng)度,從而實(shí)現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡(jiǎn)單、重現(xiàn)性好、準(zhǔn)確度高、非破壞性和對(duì)環(huán)境無(wú)污染等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于多領(lǐng)域的樣品分析。硫化銅礦石作為國(guó)家戰(zhàn)略礦石之一,對(duì)其快速準(zhǔn)確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長(zhǎng),操作繁瑣,不適合日常快速分析的要求。開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測(cè)定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅礦樣品,在600℃下預(yù)氧化20min,使低價(jià)態(tài)的硫轉(zhuǎn)變?yōu)榱蛩猁},不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕,而且可以更好的測(cè)定以Cu和S為主的主量元素的含量。






低成本

理學(xué)的Supermini200不僅是XRF元素分析需要的一個(gè)經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的選擇,運(yùn)行成本也很低。只有氣流正比探測(cè)器的P10氣體為消耗物。Supermini200不需要冷卻水、管道或外部冷卻裝置。因此降低了系統(tǒng)維修和產(chǎn)品生命周期成本,以及耗材和維修的年度預(yù)算。

超級(jí)輕元素性能

分析從微量到高濃度的具有廣泛范圍的輕元素和重元素的復(fù)雜基體材料,是儀器的核心技術(shù)。理學(xué)的Supermini200為了解決復(fù)雜基體中的線重疊,無(wú)需反卷積,提供輕元素高靈敏度和卓越的光譜分辨率。輕元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)的低濃度水平分析簡(jiǎn)單。




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