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X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。

一、X熒光光譜儀測試方法：

1、X熒光光譜儀樣品制備

進行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產生的誤籌；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數(shù)率也不同；成份不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要研磨至300目一400目，然后壓成圓片，也可以放人樣品槽中測定。對于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面，則可以把試樣用酸溶解，再沉淀成鹽類進行測定。對于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上，用紅外燈蒸干水份后測定，也可以密封在樣品槽中?？傊?，所測樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份，更不能含有腐蝕性溶劑。

2、熒光光譜儀定性分析

不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量，因此根據熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2e角可以求出x射線的波長入，從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀，可以由通道來判別能量，從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時，仍需人工鑒別。首先識別出光管靶材的特征x射線和強峰的伴隨線，然后根據能量標注剩余譜線。在分析未知譜線時，要同時考慮到樣品的來源、性質等元素，以便綜合判斷。

對于固定道儀器：

1，各個通道同時工作，這樣測試時間就可以設定為難滿足精度的元素通道所需的時間。總測定時間就是這個時間，一般幾十秒到2、3百秒。根據這個時間，多道同時式分析儀一般只需要選用小功率光管(一般幾百瓦)即可滿足對總計數(shù)率的要求。小功率光管和高壓電源及冷卻系統(tǒng)的成本低和壽命長，故障率低，維護量小。

2，分光系統(tǒng)無運動部件，計數(shù)率精度可以達到很高水平。

3，對信號處理電路要求較低。

4，由于采用多個通道，每個通道都需要獨立的分光。,衍射晶體、探測器、放大器和多道脈沖處理器，加起來成本也還是比較高。通道數(shù)量總是要受到結構的限制，不可能很多，這也是多道同時式分析儀一般少在行業(yè)應用的原因——分析元素的數(shù)量有限。

特定用戶需要根據自己的需求特點選擇合適的WDXRF儀器。

ZSX Primus中具有一個30μm的X射線管（工業(yè)中薄端窗的X射線管），用于特殊輕元素（低原子序數(shù)）檢出限。結合了的Mapping分析包來檢測均質性和夾雜物，ZSX Primus簡單地提供了其他分析方法無法提供的詳細樣品分析?？捎枚帱c分析幫助消除非均質材料的抽樣誤差。

EZ掃描允許用戶在沒有事先設定任何條件的情況下分析未知樣品。此節(jié)省時間的功能僅要求單擊幾次鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數(shù)軟件，可以提供準確、快速的XRF的結果。SQX可以自動修復包括重疊的全部矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕元素和超輕元素）、變化的氣體環(huán)境、雜質和不同的樣品尺寸，校正二次激發(fā)的效應。

產品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。