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集成電路是當(dāng)今信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的源動(dòng)力，已廣泛滲透與融合到國民經(jīng)濟(jì)和社會(huì)發(fā)展的每個(gè)角落，是《中國制造2025》的重要組成部分，是實(shí)現(xiàn)數(shù)字中國和智慧社會(huì)發(fā)展戰(zhàn)略的支撐力量。中國國際集成電路產(chǎn)業(yè)與應(yīng)用博覽會(huì)為集成電路產(chǎn)業(yè)相關(guān)企事業(yè)單位搭建了一個(gè)展示新技術(shù)、新產(chǎn)品、新應(yīng)用、新品牌的平臺(tái)，成為我國制造強(qiáng)國戰(zhàn)略的前沿技術(shù)陣地和產(chǎn)業(yè)風(fēng)向標(biāo)旗幟。

       1.測量維度不同。三坐標(biāo)測量機(jī)顧名思義是根據(jù)取點(diǎn)的三維坐標(biāo)值來進(jìn)行測量的，因空間坐標(biāo)系內(nèi)，每一點(diǎn)都僅有**的坐標(biāo)值，所以三坐標(biāo)測量儀的測量精度很高。而影像測量儀是使用光學(xué)影像技術(shù)，獲取工件的二維影像，再進(jìn)行精密測量，所以測量的工件特征一般都只是二維平面上的。

       2.測量方式不同。三坐標(biāo)測量機(jī)是通過使用測頭去接觸工件，以獲取該接觸點(diǎn)的三維坐標(biāo)值，每一次獲取點(diǎn)的坐標(biāo)，都必須通過接觸的方式獲取，是接觸式測量工具。而影像測量儀則完全不同，它是通過光學(xué)鏡頭獲取圖像進(jìn)行測量的，過程就像攝影機(jī)攝像，完全不用于工件發(fā)生接觸，是一種非接觸式測量工具。

在近年來政府大力推行的行政審批制度改革中，各級(jí)政府包括質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部門自己都沒有厘清計(jì)量強(qiáng)制檢定的法律性質(zhì)，或者沿襲慣例將其授權(quán)給法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)行使，這種法律定性的“缺位”導(dǎo)致計(jì)量強(qiáng)制檢定的行政許可屬性長期落空，也使得質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部門的計(jì)量監(jiān)管流于形式，并置質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部門于巨大的行政不作為履職風(fēng)險(xiǎn)之中。